XPS

Novým, unikátním XPS spektrometrem Nexsa™ nastavuje Thermo Scientific, revoluční standard XPS ((X-ray Photoelectron Spectroscopy) technologie. Kompaktní, plně automatizovaný, s dokonalým navigačním vzorkovým systémem, ale také multitechnický, se zachováním nejvyšší kvality měřených dat a s unikátními vlastnostmi pro špičkový výzkum a studium povrchů. XPS spektrometr Nexsa umožňuje volitelně integraci s řadou analytických technik a nástrojů, jako ISS, UPS, REELS a zcela revoluční integraci s Ramanovým spektrometrem. To umožňuje uživatelům realizovat skutečnou korelativní analýzu povrchů řadou povrchově citlivých technik. Nexsa otevírá cestu k novým poznatkům, například v mikroelektronice, studiu ultratenkých filmů, nanetochnologiích a k dalším unikátním aplikacím.“ Hloubkové profilování je k dispozici buď pomocí zdroje argonových iontů nebo zdrojem MAGCIS™ (zdroj iontů nebo klastrů).

XPS spektrometr K-Alpha představuje zcela novou koncepci povrchových analyzátorů využívajících metodu vysokého rozlišení vysoceenergetického prvkově charakteristického rentgenova záření, tj. vysoce energetických fotonů. K-Alpha je koncipován tak, aby uspokojil akademická a vědecko-výzkumná pracoviště v oblasti studia povrchových vlastností a povrchových struktur, ale má ambice a vlastnosti pronikat i do vysoce kvalifikovaných rutinních centrálních provozních laboratoří, např. v oblasti metalurgie a speciálních materiálů.

Novinka v portfoliu 'Surface Analysis' od Thermo Scientific - Escalab Xi+ je nejnovější inovací populárního XPS spektrometru ESCALAB. Escalab Xi+ je špičkové, vysoce výkonné, multifunkční zařízení pro studium povrchů a povrchových filmů metodami XPS.

Theta Probe je unikátní 'small-spot' analyzátor povrchových filmů (Thermo Scientific), který metodou ARXPS (Angle-resolved XPS), díky mikrofokusujícímu monochromátoru, umožňuje rychlou analýzu filmů do hloubek až 15 mm. Zařízení umožňuje sledování vzorků až do velikosti 70 x 70 x 25 mm. Díky automatizované, programovatelné manipulaci se vzorkem je dosaženo vysokého analytického výkonu.