SEMPLOR NANOS

NANOS je stolní rastrovací elektronový mikroskop (SEM) nové generace, který poskytuje vysoké rozlišení a integrovanou energiově disperzní spektroskopii (EDS) pro rychlou analýzu prvkového složení vzorků. Díky modernímu designu, intuitivnímu ovládání a nízkým provozním nákladům je ideální volbou pro vědecké, vzdělávací, průmyslové aplikace nebo pro mobilní laboratoře.

Klíčové vlastnosti:

• BSE a SE detektory
  NANOS je vybaven sekundárním elektronovým detektorem (SED) a čtyřkvadrantovým detektorem zpětně odražených elektronů (BSE), které poskytují ostré snímky s vysokým kontrastem a možností analýzy složení materiálu.
• Integrovaná EDS analýza
  Vestavěný detektor energiově disperzní spektroskopie (EDS) umožňuje bodovou analýzu, liniové skenování a mapování prvků v jediném systému bez potřeby externích zařízení.
• Eucentrický stolek pro snadnou manipulaci
  Motorizovaný XY stolek umožňuje přesné ovládání pohybu vzorku, zatímco manuální náklon až 55° udržuje vzorek v zaostření bez nutnosti změny nastavení SEM.
• Barevná navigační kamera
  Optický snímek celého vzorku usnadňuje navigaci a umožňuje rychlou orientaci i při vysokých zvětšeních.
• Režim nízkého vakua
  Možnost přepnutí mezi vysokým a nízkým vakuem umožňuje eliminaci nabíjení vzorku a analýzu nevodivých materiálů bez potřeby pokovení.
• Snadná údržba a nízké provozní náklady
  Díky jednoduché výměně elektronového zdroje, modulární konstrukci a absenci pohyblivých částí ve vakuové komoře minimalizuje NANOS potřebu servisu.

---

Univerzální využití

NANOS je vhodný pro široké spektrum aplikací, včetně:

• Materiálového výzkumu a analýzy mikrostruktur
• Průmyslové kontroly kvality a forenzní analýzy
• Vzdělávacích a vědeckých institucí
• Biologických a geologických studií

Pupen violky v nízkém vakuu (bez coatingu)	Smíšený režim, snadné srovnání snímků SE a BSE
NANOS náklon +15 a -38,5 stupňů
4 kvandratový BSE detektor: TOPO mód
Prvková analýza

Proč zvolit NANOS?