XPS spektrometr Nexsa ™ představuje revoluční koncepci povrchových analyzátorů využívajících metodu vysokého rozlišení vysoceenergetického, prvkově charakteristického rentgenova záření, tj. spektrometrii vysoce energetických fotonů. Koncepce spektrometru Nexsa je zcela unikátní a vpravdě revoluční. Jeho koncepce navazuje na nejúspěšnější XPS spektrometr všech dob – K-Alpha, zachovává jeho přednosti, kompaktnost, uživatelskou vlídnost, mimořádně vysoký stupeň automatizace a binární kontroly většiny funkcí. Navíc Nexsa umožňuje volitelně integraci s řadou dalších analytických technik a nástrojů, jako ISS, UPS, REELS a zcela revoluční integraci s Ramanovým spektrometrem. To umožňuje uživatelům realizovat skutečnou korelativní analýzu povrchů řadou povrchově citlivých technik.
XPS spektrometr Nexsa je koncipován tak, aby uspokojil akademická a vědecko-výzkumná pracoviště v oblasti studia povrchových vlastností a povrchových struktur, ale má ambice a vlastnosti pronikat i do vysoce kvalifikovaných rutinních centrálních a provozních laboratoří, např. v oblasti metalurgie a speciálních materiálů.
S podporou populárního ovládacího programu Avantage s integrovanou XPS Knowledge Base má Nexsa nesporně na to, aby stala skutečným tahounem povrchových analýz v univerzitních, výzkumných i kontrolních laboratořích.
XPS spektrometr Nexsa, plně automatizovaný, multitechnický XPS spektrometr – nový standard XPS spektrometrie
XPS spektrometr Nexsa™ nabízí dosud nevídanou flexibilitu a maximalizuje možnosti materiálového výzkumu. Vysoké flexibility je dosaženo možnostmi konfigurace přístroje. Mimo standardní XPS s možností hloubkového profilování buď pomocí standardního zdroje argonových iontů nebo volitelně pomocí duálního zdroje iontů a nebo klastrů – MAGCIS. Jako další jsou možnosti provádění skutečné korelativní analýzy dalšími volitelnými technikami, jako ISS, UPS, REELS a Ramanovou spektrometrií, vše v maximálně automatizovaném, binárně řízeném režimu z prostředí programu Avantage. K dispozici je „tilt“ modul pro úhlově rozlišenou XPS (ARXPS). Tak jako u všech XPS spektrometrů Thermo Scientific, zdrojem rentgenova záření je monochromatizovaný, nízkovýkonný „Al Ka X-ray“ zdroj, velikost spotu je volitelná uživatelsky již od 10 µm do 400 µm. Detektor, volitelně bipolární, se 128 kanály umožňuje pořizování tzv. SnapMap 2D vizualizací povrchů v reálném čase. Je k dispozici vakuový přenosový modul pro citlivé vzorky nebo možnost integrace rukavicového boxu. Všechny funkce přístroje, včetně programovatelné navigace na vzorcích, jsou plně digitálně řízené z prostředí řídícího a vyhodnocovacího programového balíku Avantage. Součástí SW Avantage je unikátní XPS Knowledge base.
Těmito rysy, kombinací unikátních hardwarových i softwarových vlastností, XPS spektrometr Nexsa vytváří nový standard XPS spektrometrické instrumentace a má nesporně ambice stát se lídrem XPS spektrometrie.
Aplikace Nexsa
- Skla a filmy na sklech
- Polymery
- Baterie, jejich materiály
- Grafen
- Solární články
- OLED, QOLED
- Kovy & oxidy
- Bio-povrchy
- Tenké filmy
- Polovodiče
- Keramiky
- Katalyzátory
- Nanomateriály
Z definice - je za 'povrch' je považována vrstva materiálu o tlouště cca 1 nm, tj. přibližně tři atomové vrstvy. Za ultra-tenký film je považována vrstva o tloušťce cca 1-10 nm, tj. 3-30 atomových vrstev. Tenké filmy o tloušťkách od 10 nm do cca 1 mm, tj. od 30 do 300 atomových vrstev.
Nejdůležitější techniky pro studium vlastností povrchů a ultra-tenkých povrchových filmů jsou metody XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) a AES (Auger Electron Spectroscopy).
Obě metody jsou založené na sledování kinetické energie elektronů emitovaných z povrchu a ultra-tenkého povrchového filmu vzorku. Tak je možné téměř nedestruktivně získat unikátní kvalitativní a kvantitativní informace o složení těchto částí vzorku, hloubkovém profilu a na rozdíl od XRF (X-Ray Fluorescence) i o vazebných a chemických stavech prvků. Pro metodu XPS se rovněž používá označení ESCA (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis).